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吉时利扩展源测量单元产品线

发布时间:2020-07-21 18:37:06 阅读: 来源:发卡厂家

本文引用地址:业界速度最快、体积最小且最具成本效率 吉时利(Keithley)仪器公司(NYSE:KEI)是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者,——宣布推出两款2600系列数字源表。2611和2612在吉时利去年推出的革命性源测量单元(SMU)平台上,增加了更高的电压和电流测量能力,极其有效地降低了大量电子元器件的测试成本。两种新型号产品具备的200V和10A的量程,使其成为功能测试、硅元素及复合半导体器件如FET(场效应晶体管存储器)、二极管、电压调节器、光电器件的I-V特性测试的理想选择。与同系列中其它2600系列数字源表相比,2611和2612将现有最高的数据吞吐量SMU(源测量单元)技术与紧凑的可升级的波形因子相结合,从而可实现从1到16个SMU通道的无缝系统整合。 2611和2612是专门设计用于满足电子制造业者对自动化系统的成本效益的需求,这种系统可以快速测试中、低管脚数的器件,或者测试一个产品系统中的组合装置。2611只有一个通道,2612是双通道的,多台仪器间可通过独特的嵌入式测试脚本处理器(TSP™)和TSP-Link无缝整合在一起。这些技术可以支持用户在全部多个通道上,编程和执行独立于PC操作系统和与之关联的通讯延迟之外的高速、自动化测试序列,这使得测试速度比常规测试仪器快了十倍。具有双通道和200V量程电压源的2612也可根据需要进行400V电压源的操作,此时每个SMU通道可具有1.5A直流和10A脉冲式输出。两种新产品都具有新的接触式检查功能,此功能将被加入全部2600系列产品线中。这样在进行测试前就可以确认测试仪器与所有被测装置的连接是完好的,消除在高速测试应用中出现的假故障。最终提供给用户的是一个用来执行精密直流、脉冲和低频交流源-测量测试的ATE(自动测试设备)系统和可升级的仪器平台。 模块化的、灵活的、可升级的仪器,更低的成本费用 2600系列数字源表可提供单或双通道测量能力并且可借助新的TSP-Link技术升级为更大 的自动化测试系统。TSP-Link是吉时利开发的一个具有同步触发和仪器间通信功能的总线,它可以让一个单独的TSP程序控制多达16个或更多个SMU单元,理论上系统的上限可达128通道。它专门为测试及测量类应用所特有的小信号传递进行了优化。由于它具有非常小的网络开支和每秒100Mbit数据传输速率的特点,因此在实际应用中明显地比GPIB和100BaseT以太网快。TSP-Link无需网络集成或繁多的电缆即可连接多个2600测试单元,将其无缝集成为一个系统。对这些连接在一起的单元可以像对单个独立的ATE系统一样进行编程和控制。TSP-Link给用户带来了扩展性方面的极大优势,同时又不浪费机架空间和增加主机系统,也不增加额外成本。 更短的测试时间 吉时利的TSP技术极大地提高了高速自动化系统的测试吞吐率。2611、2612数字源表可以存储和运行数百种预先定义的器件测试,可进行界限比较,完成条件性测试程序分支。在执行测试过程中,它们可以与PC控制器一起工作,也可以独立运行,其数字I/O接口可以直接控制主机和其它仪器。这大大减少了与GPIB数据通信的延迟以及PC操作系统的花费。另外,这些新产品无缝地切换量程的功能可以显著提高SMU完成跨量程测试序列的测试速度。而接触检测功能通过消除因连接不好而造成的虚假故障指示现象进一步提高了测试速度,根据被测器件的不同,与老式测试仪器相比,2611和2612测试时间可缩短10倍;而在元器件测试应用中,时间通常能缩短2~4倍。 测试系统开发简单化 过去,为基础研发应用或高速生产测试应用开发多仪器的自动化测试系统是一个挑战。吉时利用两个免费的软件工具解决了这个问题。这两个工具极大地简化了2600系列数字源表的系统化工作。对于研发和曲线描绘应用,吉时利的Labtracer2.0软件可控制多达8个数字源表通道,不用进行任何编程即可实现自动化测试。该软件可让用户简单方便地全面配置数字源表通道、运行器件参数测试以及完成测试数据绘图。 对于高速生产测试应用,TSP用一种类似BASIC命令语言提供了一个真正简单的编程接口。产品出厂时即以内置测试脚本的形式提供了很多示例。吉时利网站()上提供了更多的示例程序以供下载。TSP的集成开发环境——测试脚本创建器(TestScriptBuilder)软件也是免费提供的,它使得系统设计者能够快速、方便地创建和调试客户化的测试脚本。有关研究显示,与前几代测试仪器相比,通过使用TSP和相关软件,用户可以减少50%~70%的系统开发时间。 应用的灵活性 2611和2612型产品的200V、10A脉冲式测量能力大大扩展了2600系列数字源表的应用范围。此外,其每一个SMU通道有都具备脉冲发生器和低频任意波形发生器功能,这使得复杂的测试需求大为简化:它为包括所有元器件测试在内的广泛应用提供了一个通用的模拟I/O引脚,再配合TSP-Link的扩展能力,使得它们可以为几乎所有生产环境中的高速、多通道测试应用提供无与伦比的准确性和低噪音数据。 更低的使用成本 总体来讲,2600系列通过可扩展的最优化系统,比如降低购置费用、减少测试时间、缩短系统开发时间以及提供应用的灵活性来降低用户的总体使用成本。这些SMU能够在现有的测试平台快速增加新功能和提高其测试能力来满足新测试要求,减少用户的资金投入。只需简单的系统扩展、系统集成性以及很小的改动就可以让2600系列的用户在提高系统灵活度、性能和可靠性的同时无需付出像用户定制设备那样的高成本。对于升级的需求,只需进行最小的SMU硬件改变即可轻松满足——用户可以用一个或两个SMU模块为标准,通过简单地修改测试脚本来调整其用途。

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